PCT饱和高加速寿命老化箱亦称“高温高压蒸煮仪、压力锅蒸煮试验机”，用于耐湿性评估和强健性测试，目的在于用压缩湿气和饱和湿气环境下，评估非气密性封装固态元件的抗湿性。例如:测试印刷线路板(PCB或FPC)吸湿率、半导体封装之抗湿气能力、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等。
PCT饱和高加速寿命老化箱是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件对元器件进行加速抗湿性试验和恒定湿热试验。
PCT饱和高加速寿命老化箱特点：
1.圆弧内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中结露滴水设计。
2.精密设计，气密性良好，试验开始时系统自动一次加足试验所需用水，试验永久不中断。
3.新型伺服流量调控技术，节能30%左右。
4.流体仿真技术+创新结构设计，设备比传统技术寿命延长1/3以上。
5.大型彩色液晶触摸控制器，侧面缆线孔方便外部负载及内部数据连接，通过选购接口可进行网络监控。
满足试验标准：
1.GB/T10586-1989湿热试验室技术条件。
2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验。
3.MIL-STD810D方法502.2。
4.GJB150.9-8温湿试验。
5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验。
6. JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）
应用领域：
PCB，半导体，显示面板，太阳能，磁性材料，高分子材料等
主要技术参数：
温度范围：+100℃~+145℃
湿度范围：100%R.H
压力范围：0.2~4kg
功率：2.2kw
内箱材质：SUS #316不锈钢
外箱材质：冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理
