Auto CTS-550屏显式全数字多通道闭环测控系统采用工控总线捅槽结构，每个功能模块自成体系，独自拥有40M主频的CPU，在一套系统内多个CPU（在一套系统内至少4个）并行协同工作，实现了真正意义上的多任务并行同时工作，以往单CPU系统一种是靠外部事件中断方式循环处理任务，另一种是定时器中断方式处理多任务，后一种也是现在Win-dows所采用的多任务工作方式，这两种方式都无法对同时发生的事件并行处理，对工业控制过程的待处理量无法做到实时响应。Auto CTS-550屏显式全数字多通道闭环测控系统正是针对这点做了专门的设计，它采用多个CPU对不同的工程量同时处理，比传统单CPU系统有更快的数据处理速度，效率提升600%以上。
由于CTS-550屏显式全数字多通道闭环测控系统采用了传感器修正数据的插头分离技术，使得在一个A/D板上可以扩展无限个传感器，另一方面，借助于系统的PnP（即插即用）技术，可在一个系统内连接至少5个A/D板，大大拓展了系统对各种应用场合的适用性。系统工作原理见下图。
CTS-550屏显式全数字多通道闭环测控系统配置了负荷测量单元，采用超低噪声、高精度、低漂移的采集卡，配置选用高精度负荷传感器后能够全程范围内不分量程，分辨力达到±500000码，确保在整个测量范围内示值准确度及极高的控制精度，由于该采集卡具有传感器自动识别功能，所以单一的采集卡同时可配置多个负荷传感器，也可以配置多个采集卡。
CTS-550屏显式全数字多通道闭环测控系统的变形测量单元（见下图），小变形测量单元由高精度、低漂移、高分辨率的采集卡配以应变式电子引伸计，全程范围内不分量程，分辨率可达±500000码，以确保示值的准确度和试样特性曲线的连续性，由于该采集卡具有传感器自动识别功能，所以单一的采集卡同时可配置多个不同规格的电子引伸计，满足不同试样对标距及变形量的要求，若配置两个采集卡可实现准确测量弹性模量、金属薄板的n值和r值等需要双引伸计测量的要求。
CTS-550屏显式全数字多通道闭环测控系统的位移测量单元采用日本高精度光电编码器联接于丝杠端头实现，可准确测量十字头的位移，亦可用于夹具间试样变形的测量，分辨力最高可达0.00001mm，从而保证极高的控制精度。
