眼下，不管是各路资本争相进入的AI行业还是已经引起多国政府关注的芯片技术，这一切离不开半导体的支持。在我们越来越依赖半导体的同时，又对它们的安全性和工作寿命提出了更高的要求。那么我们又如何预知它们的寿命呢？答案只有一个：模拟和筛选。WBE威邦可提供半导体行业封装精密检测设备和一系列可靠性试验设备，设备满足 GB、GJB、MIL-STD、AEC、JEDEC等标准。
半导体行业可靠性测试和筛选方案
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检测对象 |
试验项目 |
试验标准 |
解决方案（试验设备） |
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功率半导体器件 |
温度循环 TC |
JESD22-A104 |
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低温存储试验 LTSL |
JESD22-A11 |
超低温试验箱 |
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高温存储试验 HTS |
GB/T 4937-1995 第Ⅲ 篇 2 GB/T 2424.19-2005 JESD22-A103C |
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稳态湿热试验 STH |
JESD22-A101C 5 |
H3TGB高温高湿反偏老化测试系统 |
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高温高湿偏压 H3TRB |
AEC -Q101 JESD22A-101 |
HTGB高温反偏老化测试系统 |
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高温反偏 HTRB |
JESD22-A108 |
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高温栅反偏试验 HTGB |
JESD22A-108 AEC-Q101 |
HTGB高温栅反偏老化测试系统 |
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高压加速寿命试验 PCT |
JESD22-A11 |
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高加速老化试验 HAST |
JESD22-A110 |
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不偏压高速老化 UHAST |
JESD22-A110 |
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盐雾腐蚀试验 SST |
GBT2423.17-93 |
复合式盐雾试验机 |
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IGBT 模块 IPM 模块 SIC |
温度循环 TC |
JESD22-A104 |
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低温存储试验 LTSL |
JESD22-A11 |
超低温试验箱 |
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高温存储试验 HTS |
JESD22-A103C |
高温贮存箱 |
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稳态湿热试验 STH |
JESD22-A101C 5 |
稳态湿热试验箱 |
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高温高湿偏压 H3TRB |
AEC-Q101 JESD22A-101 |
H3TGB高温高湿反偏老化测试系统 |
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高温反偏 HTRB |
JESD22-A108 |
HTGB高温反偏老化测试系统 |
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高温栅反偏试验 HTGB |
JESD22A-108 AEC-Q101 |
HTGB高温栅反偏老化测试系统 |
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高压加速寿命试验 PCT |
JESD22-A11 |
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高加速老化试验 |
JESD22-A110 |
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分立器件 |
温度循环 TC |
GB/T 4937-1995 第Ⅲ 篇 1.1 GB/T 2423.22-2012 7 JESD22-A104D |
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低温存储试验 LTSL |
JESD22-A11 |
超低温试验箱 |
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高温存储试验 HTS |
JESD22-A103C |
高温贮存箱 |
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恒温恒湿(H3TRB) |
GB/T 4937-1995第Ⅲ篇 5 GB/T 2423.3-2006 JESD22-A101C |
H3TGB高温高湿反偏老化测试系统 |
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高压蒸煮(PCT) |
JESD22-A102-C |
关于威邦
广东威邦仪器科技股份有限公司·简称（WBE威邦）始创于1995年，总部位于粤港澳大湾区-东莞。是一家集研发，生产，销售，服务于一体的高端检测仪器厂商，公司目前拥有12000+㎡现代化独立厂房满足各种非标定制生产，产品涵盖：环境气候试验箱，推拉力测试机，力学与气候综合类试验箱等大型非标可靠性试验设备。
历经30年的稳健发展和沉淀，威邦仪器客户领域遍及军工、半导体、汽车电子、检测单位、新能源、科研院校、光电、医疗等科技产业，我们始终以创新技术和高品质的产品驱动企业发展，赢得客户信赖。
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