BHAST（偏压）加速老化试验箱

产品规格 : 满足35~55L标准容积和其它型号非标定制

产品介绍：
       用于评估非气密性封装IC器件（固态设备）在高温高湿条件下的运行可靠性，对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度（偏压）高加速应力寿命老化试验。

产品别名：
       BHAST,偏压高加速老化试验箱, 温湿度偏压寿命老化试验箱,高温高湿偏压湿热老化箱

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一，满足试验标准：

AEC Q101（车规级芯片）

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热

JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命

JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）

JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）

JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命

JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验

二，应用领域：

PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件、车规级芯片

产品特点

1.内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

2.采用高效真空泵，使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态。

3.采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口。

4.汽车级硅胶整体密封条，气密性好，耐用。

5.全自动补水功能,前置式水位确认。

6.采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为：干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式)。

技术规格

BHAST（偏压）加速老化试验箱
型号	WBE-HAST-30	WBE-HAST-40	WBE-HAST-55（可定制）
内容积（L）	31 L	69 L	154 L
内箱尺寸(ΦxD) 直径x深(mm）	350x450mm	400x550mm	550x650mm（可定制大于这个尺寸）
功率	2.8KW	3.2KW	4KW
重量	252KG	285KG	358KG
电源	AC220V 50/60Hz
温度范围	+100℃～+156℃
温度波动度	≤±0.5℃
温度均匀度	≤±0.5℃
湿度范围	65%～100 %R.H
湿度波动度	≤±2 %R.H
湿度均匀度	≤±3 % R.H
压力范围	0.2~3kg/cm² (0.018~0.294Mpa)；0.2~4kg/cm² (0.018~0.394Mpa)
升温时间	常温～+ 155℃ 约45 min
升压时间	常压～3kg/cm² 约35 min. 外部气源加压：约5 min
偏压端子	含偏压端子（选配订购时需注明）
压力偏差	≤±2Kpa
循环方式	磁流体密封件+风叶强制对流循环方式
加压方式	1.锅炉蒸汽加压；2外部气体加压
分辨率	温度±0.1℃,湿度±0.1%R.H. 压力0.01kg/cm² ，0.01min
保温围护结构	内胆：优质SUS316锈钢；外壳;轧钢板+双面静电喷塑工艺处理；内胆保温材料：超细玻璃棉。
燥音	≤60（dB）
控制器	7寸彩色触摸屏控制器（带压力温湿度曲线，带RS-485或RS-232通讯，USB烤数据）
使用条件	环境温度：+5℃~+35℃;环境湿度：≤85%RH；环境大气压要求：86KPa～106KPa
型号说明