产品说明
HAST高压加速寿命老化箱用于评估电子元器件、PCB、芯片产品等在高温，高湿，高气压条件下对环境的抵抗能力，通过加速其失效过程，加速因子在几十到几百倍之间，此类极端的加速模拟可靠性测试，便于确定产品或器件的极限工作条件，更容易提前发现产品失效模式，并且缩短产品或系统的寿命试验时间，为量产验证赢得时间。
产品别名：
双层式HAST高压加速寿命老化箱，两槽式HAST加速寿命试验装置，双腔体HAST老化箱，两层式HAST高压加速老化箱
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威邦双层式-HAST高压加速寿命老化箱：英文名2-Zone HAST CHAMBER，用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验。
► 高效的双腔体设计，WBE先进的HAST设备集高温高湿85℃/85%R.H、95℃/95%R.H 、PCT、HAST功能于一体。
► 独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。
► 超长实验运转时间，设备可持续运转400+小时。
► 快速排气模式，试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性。
AEC Q101
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热
IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热
JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命
JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）
JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）
JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命
JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验
JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）
| HAST高压加速寿命老化箱（双腔式） | ||||
| 型号Model | WBE-2HAST-35 | |||
| 内箱尺寸 单个腔体 （mm） |
直径φ | 350 | ||
| 深D | 450 | |||
| 外箱尺寸 （mm） |
宽W | 700 | ||
| 深D | 1000 | |||
| 高H | 1900 | |||
| 性能指标 | 温度范围 | A： +100~+143℃；B： +100~+156℃ | ||
| 湿度范围 | 60%~100%RH | |||
| 压力范围 | A：0.2~3kg/cm² (0.018~0.294Mpa)；B：0.2~4kg/cm² (0.018~0.394Mpa) | |||
| 温度均匀度 | ≤±2℃ | |||
| 温度波动度 | ≤±0.5℃ | |||
| 湿度波动度 | ≤±2 % R.H | |||
| 湿度偏差 | ≤±3 % R.H | |||
| 温度偏差 | ≤±2℃ | |||
| 压力偏差 | ≤±2Kpa | |||
| 升温时间 | 常温～+ 143℃ 约45 min ；常温～+ 156℃ 约55 min | |||
| 升压时间 | 常压～3kg/cm² 约35 min，外部气源加压：约5 min | |||
| 功率 | 5.6KW | |||
| 箱体材质 | 内箱 | SUS #316不锈钢 | ||
| 外箱 | 冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理 | |||
| 保温 | 超细玻璃棉 | |||
| 噪音 | ≤60（dB） | |||
| 控制器 | 7寸彩色触摸屏控制器（带压力温湿度，带RS-485或RS-232通讯，USB烤数据） | |||
| 分辨率 | 温度：0.01℃；湿度：0.1%RH；压力：0.1 kg/cm²； | |||
| 加压方式 | 1.锅炉蒸汽加压；2.外部气体加压 | |||
| BIAS偏压端子 | 含偏压端子（选配订购时需注明） | |||
| 使用条件 | 环境温度：+5℃~+35℃;环境湿度：≤85%RH；环境大气压要求：86KPa～106KPa | |||
| 电源 | AC220V 50/60Hz | |||
| 保护装置 | 1.超温保护，2.风机超载保护，3.箱门压力保护，4.缺水保护，5.溢水保护，6.加热器空焚保护，7.加热器超载保护，8.电源缺相保护，9.过电流保护，10.短路漏电等保护 | |||
| 型号说明 |
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产品详情
产品特点
技术规格
威邦实力
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