HAST高压加速老化试验箱（自动门）

产品介绍：
      HAST高压加速老化试验箱（自动门）英文名（Highly Accelerated Stress Test）用于模拟芯片在实际使用中可能遇到的极端环境和高温高湿的工作环境，以检验芯片的可靠性和寿命。其原理是将芯片放置在高温高湿的环境中，在一定时间内进行加速老化测试，从而提高产品的质量和可靠性。

产品别名：
      自动门HAST高压加速老化试验箱，自动门HAST老化试验箱，HAST高加速寿命试验箱，自动门HAST

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威邦HAST高压加速老化试验箱：英文名Highly Accelerated Stress Test Chamber 用于模拟芯片高温高湿高压的环境中，在一定时间内进行加速老化测试，藉以在最短时间内检验芯片的可靠性和寿命，从而提高产品的质量和可靠性。

► 行业首创压力可达4KG测试范围，

► 自动箱门设计，按钮控制箱门开合，自带压力保护，

► 内置自研PID控制算法，确保温度、湿度以及压力值准确度，

► 兼容不饱和高压蒸汽的恒定湿热（HAST）和高压蒸煮（PCT）试验，

产品特点

满足试验标准：

AEC Q101（车规级芯片）

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热

JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命

JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）

JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）

JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命

JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验

JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）

技术规格

*可定制任意规格参数非标机型

HAST高压加速老化试验箱（自动门）
型号Model		WBE-HAST-30	WBE-HAST-40	WBE-HAST-55	WBE-HAST-65
容积（L）		31 L	69 L	154 L	248 L
内箱尺寸（mm）	直径φ	350	400	550	650
	深D	450	550	650	750
外箱尺寸（mm）	宽W	700	700	850	950
	深D	1000	1000	1150	1350
	高H	1710	1710	1760	1860
性能指标	温度范围	A： +100~+143℃； B： +100~+156℃
	湿度范围	60%~100%RH
	压力范围	A：0.2~3kg/cm² (0.018~0.294Mpa)； B：0.2~4kg/cm² (0.018~0.394Mpa)
	温度均匀度	≤±2℃
	温度波动度	≤±0.5℃
	湿度波动度	≤±2 % R.H
	湿度偏差	≤±3 % R.H
	温度偏差	≤±2℃
	压力偏差	≤±2Kpa
	升温时间	常温～+ 143℃ 约45 min ；常温～+ 156℃ 约55 min
	升压时间	常压～3kg/cm² 约35 min，外部气源加压：约5 min
	功率	2.8KW	3.2KW	4KW	5KW
箱体材质	内箱	SUS #316不锈钢
	外箱	冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理
	保温	超细玻璃棉
噪音		≤60（dB）
控制器		7寸彩色触摸屏控制器（带压力温湿度，带RS-485或RS-232通讯，USB烤数据）
分辨率		温度：0.01℃；湿度：0.1%RH；压力：0.1 kg/cm²；
加压方式		1.锅炉蒸汽加压；2.外部气体加压
BIAS偏压端子		含偏压端子（选配订购时需注明）
使用条件		环境温度：+5℃~+35℃;环境湿度：≤85%RH；环境大气压要求：86KPa～106KPa
电源		AC220V 50/60Hz
保护装置		1.超温保护，2.风机超载保护，3.箱门压力保护，4.缺水保护，5.溢水保护，6.加热器空焚保护， 7.加热器超载保护，8.电源缺相保护，9.过电流保护，10.短路漏电等保护
型号说明