HAST高加速寿命老化箱

威邦HAST高加速寿命老化箱：英文名（Highly Accelerated Stress Test Chamber），简称HAST，UHAST。通过在高度受控的压力容器内设定和创建高温、高湿、高压、偏置电压(无偏压)等条件下加速模拟产品在正常使用过程中因环境(温度、湿度)、电压应力引起的材料退化导致的产品失效。

一，应用领域：

树脂密封IC、芯片、二极管、SMD部件、PCB、LCDBoard、电池、电容、电阻、连接器、线路板、磁性材料、EVA、光伏组件、车规级芯片等电子部件的防潮性评价。

二，HAST 失效现象：（HAST 试验中，器件可能出现以下失效现象）

» 金属腐蚀：

高温高湿环境加速水汽渗透入塑封壳内，导致金属元件和导线上产生氧化物和腐蚀，可能引发短路等现象。

» 绝缘材料老化：

高温高湿环境使绝缘材料中的水分析入，加速绝缘材料老化，可能引起漏电等现象。

» 焊点开裂：

装材料与芯片框架的热膨胀系数不同，在高温高湿环境下可能造成焊点开裂，引发接触不良等问题。

» 爆米花效应：

由于封装体在高温下内部水分汽化而产生爆裂现象。

三，2种测试模式：HUM（不饱和）/ STD（饱和）模式

» 内胆采用双层SUS316加厚不锈钢圆弧设计，罐体生产获得国家特种设备制造许可证之压力容器许可证书。

» 3种排气模式，相对保湿的缓慢冷却/保持水汽的慢速冷却/快速排气。

» 采用带托盘的电机驱动系统(抽拉式箱门 . 电机驱动夹紧法)。

» 双容器组成结构，试验腔和蒸汽发生器独立设计，减少了试验腔和蒸汽发生器之间的相互干扰。

» 可按不同样品测试需求定制样品架及工装治具。

» 兼容高加速温湿度应力（不饱和）HAST试验和高压蒸煮（饱和）PCT抗湿性试验。