PCT高压加速老化箱

产品规格 : 满足31~248L标准容积选型和非标定制

产品介绍：
       PCT高压加速老化箱又叫饱和蒸汽高压寿命试验箱，英文名High Pressure Cooking Testing Chamber。用于评估电子元器件、PCB、芯片产品等在高温，高湿，高气压条件下对环境的抵抗能力，通过加速其失效过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，提前发现产品失效模式。


产品别名：
      PCT高温高压蒸煮仪，饱和稳态湿热老化箱，PCT饱和湿度加速寿命老化箱……

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产品详情

威邦PCT高压加速老化箱：用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、饱和湿热等加速寿命信赖性试验。

一，满足试验标准：

GB/T10586-1989湿热试验室技术条件。

GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验。

MIL-STD810D方法502.2。

GJB150.9-8温湿试验。

GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验。

JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）

二，应用领域：

PCB，半导体，显示面板，太阳能，磁性材料，高分子材料等

技术规格

PCT（饱和湿度）高压加速老化箱
型号Model		WBE-PCT-30	WBE-PCT-40	WBE-PCT-55	WBE-PCT-65
容积（L）		31 L	69 L	154 L	248 L
内箱尺寸（mm）	直径φ	350	400	550	650
	深D	450	550	650	750
外箱尺寸（mm）	宽W	700	700	850	950
	深D	1000	1100	1150	1250
	高H	1710	1710	1760	1860
性能指标	温度范围	+100~+145℃（饱和蒸汽温度）
	湿度范围	100%RH（饱和蒸气湿度）
	压力范围	0.2~3kg/cm² (0.05~0.294Mpa)
	温度均匀度	≤±2℃
	温度波动度	≤±0.5℃
	湿度波动度	≤±2 % R.H
	湿度偏差	≤±3 % R.H
	温度偏差	≤±2℃
	压力偏差	≤±2Kpa
	加压时间	约45min
	功率	2.2KW	2.5KW	3.5KW	4.5KW
箱体材质	内箱	SUS #316不锈钢
	外箱	冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理
	保温	超细玻璃棉
噪音		≤60（dB）
控制器		7寸彩色触摸屏控制器（带压力温湿度，带RS-485或RS-232通讯，USB烤数据）
分辨率		温度：0.01℃；湿度：0.1%RH；压力：0.1 kg/cm²；
BIAS偏压端子		依据用户需求定制
使用条件		环境温度：+5℃~+35℃;环境湿度：≤85%RH；环境大气压要求：86KPa～106KPa
电源		AC220V 50/60Hz
保护装置		1.超温保护，2.风机超载保护，3.箱门压力保护，4.缺水保护，5.溢水保护，6.加热器空焚保护， 7.加热器超载保护，8.电源缺相保护，9.过电流保护，10.短路漏电等保护
型号说明