HAST高压加速老化箱

产品规格 : 满足31~248L标准容积选型和非标定制

产品介绍
       HAST高压加速老化箱英文名HAST CHAMBER，用于评估电子元器件、PCB、芯片产品等在高温，高湿，高气压条件下对环境的抵抗能力，通过加速其失效过程，加速因子在几十到几百倍之间，此类极端的加速模拟可靠性测试，便于确定产品或器件的极限工作条件，更容易提前发现产品失效模式，并且缩短产品或系统的寿命试验时间，为量产验证赢得时间。


产品别名：
      超加速寿命试验机，HAST高压加速寿命老化箱，HAST老化箱，不饱和高压加速老化箱，UHAST……

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产品详情

威邦HAST高压加速老化箱又叫高加速寿命老化试验箱，用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热等加速寿命信赖性试验。

► 产品集高温高湿85℃/85%R.H、95℃/95%R.H 、PCT、HAST功能于一体。

► 超长实验运转时间，设备可持续运转400+小时。

► 装有偏压端子（导电螺杆M6:电压0～380V；最大耐压值2000V；电流0～100A)。

► 快速排气模式，试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性。

产品特点

AEC Q101

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热

JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命

JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）

JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）

JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命

JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验

JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）

技术规格

HAST高压加速老化箱
型号Model		WBE-HAST-30	WBE-HAST-40	WBE-HAST-55	WBE-HAST-65
容积（L）		31 L	69 L	154 L	248 L
内箱尺寸（mm）	直径φ	350	400	550	650
	深D	450	550	650	750
外箱尺寸（mm）	宽W	700	700	850	950
	深D	1000	1000	1150	1350
	高H	1710	1710	1760	1860
性能指标	温度范围	A： +100~+143℃； B： +100~+156℃
	湿度范围	60%~100%RH
	压力范围	A：0.2~3kg/cm² (0.018~0.294Mpa)； B：0.2~4kg/cm² (0.018~0.394Mpa)
	温度均匀度	≤±2℃
	温度波动度	≤±0.5℃
	湿度波动度	≤±2 % R.H
	湿度偏差	≤±3 % R.H
	温度偏差	≤±2℃
	压力偏差	≤±2Kpa
	升温时间	常温～+ 143℃ 约45 min ；常温～+ 156℃ 约55 min
	升压时间	常压～3kg/cm² 约35 min，外部气源加压：约5 min
	功率	2.8KW	3.2KW	4KW	5KW
箱体材质	内箱	SUS #316不锈钢
	外箱	冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理
	保温	超细玻璃棉
噪音		≤60（dB）
控制器		7寸彩色触摸屏控制器（带压力温湿度，带RS-485或RS-232通讯，USB烤数据）
分辨率		温度：0.01℃；湿度：0.1%RH；压力：0.1 kg/cm²；
加压方式		1.锅炉蒸汽加压；2.外部气体加压
BIAS偏压端子		含偏压端子（导电螺杆M6:电压0～380V；最大耐压值2000V；电流0～100A) （选配订购时需注明）
使用条件		环境温度：+5℃~+35℃;环境湿度：≤85%RH；环境大气压要求：86KPa～106KPa
电源		AC220V 50/60Hz
保护装置		1.超温保护，2.风机超载保护，3.箱门压力保护，4.缺水保护，5.溢水保护，6.加热器空焚保护， 7.加热器超载保护，8.电源缺相保护，9.过电流保护，10.短路漏电等保护
型号说明