PCT（饱和）高压蒸煮老化箱

产品规格 : 满足31~248L标准容积选型和非标定制

产品介绍：
       用于耐湿性评估和强健性测试，目的在于用压缩湿气和饱和湿气环境下，评估非气密性封装固态元件的抗湿性。在高压、高湿条件下加速湿气渗透（塑封料、芯片钝化层）或设计变更（芯片、触电尺寸）与金属导电层间界面的渗透，从而识别封装内部的失效机制。

产品别名：
      PCT,饱和稳态湿热老化寿命试验箱,饱和高压加速老化试验箱,PCT高压蒸煮仪,饱和蒸汽加速老化箱，高温高压蒸煮老化箱

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一，满足试验标准：

1.GB/T10586-1989湿热试验室技术条件。

2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验。

3.MIL-STD810D方法502.2。

4.GJB150.9-8温湿试验。

5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验。

6. JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）

二，应用行业：

IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件、国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑料、制药、线路板，LCD、灯饰、照明制品等

产品特点

1.圆弧内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中结露滴水设计。　

2.精密设计，气密性良好，试验开始时系统自动一次加足试验所需用水，试验永久不中断。

3.新型伺服流量调控技术，节能30%左右。

4.流体仿真技术+创新结构设计，设备比传统技术寿命延长1/3以上。

5.大型彩色液晶触摸控制器，侧面缆线孔方便外部负载及内部数据连接，通过选购接口可进行网络监控。　

技术规格

PCT（饱和）高压加速老化箱
型号Model		WBE-PCT-30	WBE-PCT-40	WBE-PCT-55	WBE-PCT-65
容积（L）		31 L	69 L	154 L	248 L
内箱尺寸（mm）	直径φ	350	400	550	650
	深D	450	550	650	750
外箱尺寸（mm）	宽W	700	700	850	950
	深D	1000	1100	1150	1250
	高H	1710	1710	1760	1860
性能指标	温度范围	+100~+145℃（饱和蒸汽温度）
	湿度范围	100%RH（饱和蒸气湿度）
	压力范围	0.2~3kg/cm² (0.05~0.294Mpa)
	温度均匀度	≤±2℃
	温度波动度	≤±0.5℃
	湿度波动度	≤±2 % R.H
	湿度偏差	≤±3 % R.H
	温度偏差	≤±2℃
	压力偏差	≤±2Kpa
	加压时间	约45min
	功率	2.2KW	2.5KW	3.5KW	4.5KW
箱体材质	内箱	SUS #316不锈钢
	外箱	冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理
	保温	超细玻璃棉
噪音		≤60（dB）
控制器		7寸彩色触摸屏控制器（带压力温湿度，带RS-485或RS-232通讯，USB烤数据）
分辨率		温度：0.01℃；湿度：0.1%RH；压力：0.1 kg/cm²；
BIAS偏压端子		依据用户需求定制
使用条件		环境温度：+5℃~+35℃;环境湿度：≤85%RH；环境大气压要求：86KPa～106KPa
电源		AC220V 50/60Hz
保护装置		1.超温保护，2.风机超载保护，3.箱门压力保护，4.缺水保护，5.溢水保护，6.加热器空焚保护， 7.加热器超载保护，8.电源缺相保护，9.过电流保护，10.短路漏电等保护
型号说明